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components, circuits, devices and systems
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silicon
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micromechanical devices
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주제
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components, circuits, devices and systems
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silicon
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micromechanical devices
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bioengineering
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microactuators
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micrurgy
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microelectromechanical systems (mems)
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ieee transactions on semiconductor manufacturing
(35)
japanese journal of applied physics
(12)
journal of microelectromechanical systems
(12)
간행물
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Name
ieee transactions on semiconductor manufacturing
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japanese journal of applied physics
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journal of microelectromechanical systems
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science advances
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2020 ieee 33rd international conference on microelectronic test structures (icmts), microelectronic test structures (icmts), 2020 ieee 33rd international conference on
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2021 21st international conference on solid-state sensors, actuators and microsystems (transducers), ssolid-state sensors, actuators and microsystems (transducers), 2021 21st international conference on
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2024 ieee 36th international conference on microelectronic test structures (icmts), microelectronic test structures (icmts), 2024 ieee 36th international conference on
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advanced robotics
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current applied physics
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2014 international conference on microelectronic test structures (icmts), microelectronic test structures (icmts), 2014 international conference on
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2014 symposium on design, test, integration and packaging of mems/moems (dtip), design, test, integration and packaging of mems/moems (dtip), 2014 symposium on
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2016 11th european workshop on microelectronics education (ewme), microelectronics education (ewme), 2016 11th european workshop on
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2018 ieee international conference on microelectronic test structures (icmts), microelectronic test structures (icmts), 2018 ieee international conference on
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2019 20th international conference on solid-state sensors, actuators and microsystems & eurosensors xxxiii (transducers & eurosensors xxxiii), solid-state sensors, actuators and microsystems & eurosensors xxxiii (transducers & eurosensors xxxiii), 2019 20th international conference on
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2020 symposium on design, test, integration & packaging of mems and moems (dtip), design, test, integration & packaging of mems and moems (dtip), 2020 symposium on
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2022 ieee 34th international conference on microelectronic test structures (icmts), microelectronic test structures (icmts), 2022 ieee 34th international conference on
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2023 22nd international conference on solid-state sensors, actuators and microsystems (transducers), solid-state sensors, actuators and microsystems (transducers), 2023 22nd international conference on
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2023 35th international conference on microelectronic test structure (icmts), microelectronic test structure (icmts), 2023 35th international conference on
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2023 symposium on design, test, integration & packaging of mems/moems (dtip), design, test, integration & packaging of mems/moems (dtip), 2023 symposium on
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2024 ieee 37th international conference on micro electro mechanical systems (mems), micro electro mechanical systems (mems), 2024 ieee 37th international conference on
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electronics & communications in japan, part 2: electronics
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ieee electron device letters
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ieee journal of selected topics in quantum electronics
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journal of the physical society of japan
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microsystem technologies
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optica
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sensors and actuators: a. physical
(
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transducers '01 eurosensors xv : the 11th international conference on solid-state sensors and actuators june 10 - 14, 2001 munich, germany
(
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micro total analysis systems 2002 : proceedings of the μtas 2002 symposium, held in nara, japan, 3-7 november 2002 volume 2
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microscopy oxford england
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microsystem technologies: micro- and nanosystemsinformation storage and processing systems
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sensors & actuators: a. physical
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출판사
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Name
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Complementary Index
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1
Test Structure to Assess Bump Shape Influence on Hybrid Bonding
회의자료
issue
2024 IEEE 36th International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS) Microelectronic Test Structures (ICMTS), 2024 IEEE 36th International Conference on. :1-4 Apr, 2024
Author
Mizushima, Ayako
Misumi, Kei
Yasunaga, Shun
Higo, Akio
Nakane, Ryosho
Tsumura, Kazumichi
Higashi, Kazuyuki
Ochiai, Yukinori
Mita
,
Yoshio
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
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2
An Add-in Test Structure Chip to Unitedly Assess PVD Material Properties in University Open Nanotechnology Platform
회의자료
issue
2024 IEEE 36th International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS) Microelectronic Test Structures (ICMTS), 2024 IEEE 36th International Conference on. :1-4 Apr, 2024
Author
Yasunaga, Shun
Misumi, Kei
Mizushima, Ayako
Toyokura, Atsushi
Ota, Etsuko
Inoue, Yurie
Fujiwara, Makoto
Kawai, Noriko
Yoda, Mitsuhiro
Tsuboi, Shinji
Sawamura, Tomoki
Higo, Akio
Nakane, Ryosho
Ochiai, Yukinori
Mita
,
Yoshio
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
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Full Text (IEEE)
3
Droplet Impact Sensing with Low Noise Coplanar Reverse-Electrowetting Test Structures
회의자료
issue
2024 IEEE 36th International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS) Microelectronic Test Structures (ICMTS), 2024 IEEE 36th International Conference on. :1-5 Apr, 2024
Author
Moyo, Anotidaishe
Shahzad, Muhammad Wakil
Smith, Stewart
Terry, Jonathan
Mita
,
Yoshio
Lewis, Joseph
Li, Yifan
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
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4
Nanospires Insulation Penetrator for Reliable on-Touch Electrical Connection
회의자료
issue
2024 IEEE 37th International Conference on Micro Electro Mechanical Systems (MEMS) Micro Electro Mechanical Systems (MEMS), 2024 IEEE 37th International Conference on. :687-690 Jan, 2024
Author
Shimamura, Ryugo
Misumi, Kei
Yasunaga, Shun
Higo, Akio
Nakane, Ryosho
Mita
,
Yoshio
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
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5
Novel Fabrication of 4D Printed Optical Probe Array with Nanometer Aperture and Optical Spot Size Tunning
회의자료
issue
2024 IEEE 37th International Conference on Micro Electro Mechanical Systems (MEMS) Micro Electro Mechanical Systems (MEMS), 2024 IEEE 37th International Conference on. :493-496 Jan, 2024
Author
Decanini, Dominique
Harouri, Abdelmounaim
Mizushima, Ayako
Park, Jongho
Kim, Beomjoon
Mita
,
Yoshio
Hwang, Gilgueng
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
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6
Operation of Arrayed Logic Elements for Mems Ising Machine
회의자료
issue
2023 22nd International Conference on Solid-State Sensors, Actuators and Microsystems (Transducers) Solid-State Sensors, Actuators and Microsystems (Transducers), 2023 22nd International Conference on. :453-456 Jun, 2023
Author
Yasunaga, Shun
Ezawa, Motohiko
Tsuji, Keigo
Misumi, Kei
Sawamura, Tomoki
Tsuboi, Shinji
Mizushima, Ayako
Ochiai, Yukinori
Higo, Akio
Mita
,
Yoshio
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
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7
A Bimodal "Sensor Chiplet" Platform Applied for Albumin and pH Multi-Chemical Sensing
회의자료
issue
2023 22nd International Conference on Solid-State Sensors, Actuators and Microsystems (Transducers) Solid-State Sensors, Actuators and Microsystems (Transducers), 2023 22nd International Conference on. :2014-2017 Jun, 2023
Author
Shimamura, Ryugo
Yasunaga, Shun
Misumi, Kei
Eiler, Anne-Claire
Higo, Akio
Hwang, Gilgueng
Mizushima, Ayako
Zhu, Dongchen
Komori, Kikuo
Sakai, Yasuyuki
Toshiyoshi, Hiroshi
Tixier-
Mita
, Agnes
Mita
,
Yoshio
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
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Full Text (IEEE)
8
“TopoMEMS varicaps” - MEMS comb-drive variable capacitors with tailored stroke-to-capacitance dependence
회의자료
issue
2023 Symposium on Design, Test, Integration & Packaging of MEMS/MOEMS (DTIP) Design, Test, Integration & Packaging of MEMS/MOEMS (DTIP), 2023 Symposium on. :1-4 May, 2023
Author
Mita
,
Yoshio
Yasunaga, Shun
Tsuji, Keigo
Higo, Akio
Iizuka, Tetsuya
Ezawa, Motohiko
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
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Full Text (IEEE)
9
Automatic Generation System of Capacitive MEMS Accelerometers
회의자료
issue
2023 Symposium on Design, Test, Integration & Packaging of MEMS/MOEMS (DTIP) Design, Test, Integration & Packaging of MEMS/MOEMS (DTIP), 2023 Symposium on. :1-4 May, 2023
Author
Sato, Yudai
Yasunaga, Shun
Mita
,
Yoshio
Komatsu, Satoshi
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
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Full Text (IEEE)
10
Test Structures for Studying Coplanar Reverse- Electrowetting for Vibration Sensing and Energy Harvesting
회의자료
issue
2023 35th International Conference on Microelectronic Test Structure (ICMTS) Microelectronic Test Structure (ICMTS), 2023 35th International Conference on. :1-4 Mar, 2023
Author
Moyo, Anotidaishe
Shahzad, Muhammad Wakil
Terry, Jonathan G.
Smith, Stewart
Mita
,
Yoshio
Li, Yifan
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
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Full Text (IEEE)
1
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3
4
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130435610
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RISS-한국교육학술정보원
LG 상남도서관
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강남대학교 도서관
강릉대학교 도서관
강원대학교 삼척캠퍼스 도서관
강원대학교 중앙도서관
건국대학교 상허기념도서관
경기대학교 중앙도서관
경남과학기술대학교 도서관
경남대학교 중앙도서관
경북대학교 도서관
경상대학교 중앙도서관
경성대학교 중앙도서관
경인교육대학교 도서관
경희대학교 도서관
계명대학교 동산도서관
고려대학교 중앙도서관
고신대학교 중앙도서관
공주교육대학교 디지털도서관
공주대학교 중앙도서관
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광운대학교 중앙도서관
광주과학기술원 도서관
광주교육대학교 디지털도서관
광주대학교 중앙도서관
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금오공과대학교 도서관
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단국대학교 퇴계기념중앙도서관
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동국대학교 도서관
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서울대학교 농학도서관
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서울대학교 중앙도서관
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