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주제
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components, circuits, devices and systems
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logic gates
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silicon carbide
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silicon
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computing and processing
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field-effect transistors
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logic circuits
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ion implantation
(
16
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mosfet
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metal oxide semiconductor field-effect transistors
(
14
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tunneling
(
14
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junctions
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)
silicon carbide (sic)
(
13
)
contact resistance
(
12
)
ohmic contact
(
12
)
power, energy and industry applications
(
12
)
threshold voltage
(
12
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annealing
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germanium
(
11
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ohmic contacts
(
11
)
photonics and electrooptics
(
11
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thin film transistors
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11
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flash memory
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integrated circuits
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leakage current
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resistance
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silicides
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10
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thin films
(
10
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grain boundaries
(
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)
mosfets
(
9
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sic
(
9
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signal processing and analysis
(
9
)
silicon-carbide
(
9
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transistors
(
9
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conductivity
(
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)
epitaxial layers
(
8
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isolation
(
8
)
mosfet circuits
(
8
)
oxidation
(
8
)
tunnel field-effect transistor
(
8
)
ions
(
7
)
metals
(
7
)
photonic band gap
(
7
)
specific contact resistance
(
7
)
communication, networking and broadcast technologies
(
6
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crystal grain boundaries
(
6
)
flash memories
(
6
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microprocessors
(
6
)
nickel
(
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1101-1300
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ieee transactions on electron devices
(43)
ieee electron device letters
(27)
journal of applied physics
(16)
간행물
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Name
ieee transactions on electron devices
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)
ieee electron device letters
(
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journal of applied physics
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japanese journal of applied physics
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microelectronics reliability
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solid-state electronics
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solid state electronics
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applied physics letters
(
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electrochemical and solid state letters
(
4
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nanoscale research letters
(
4
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journal of electronic materials
(
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2016 international conference on microelectronic test structures (icmts), microelectronic test structures (icmts), 2016 international conference on
(
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2017 international conference on electron devices and solid-state circuits (edssc), electron devices and solid-state circuits (edssc), 2017 international conference on
(
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2023 ieee workshop on wide bandgap power devices and applications in asia (wipda asia), wide bandgap power devices and applications in asia (wipda asia), 2023 ieee workshop on
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ecs journal of solid state science and technology
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ieee transactions on nanotechnology
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journal of the electrochemical society
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materials science forum
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the 4th ieee international nanoelectronics conference, nanoelectronics conference (inec), 2011 ieee 4th international
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vacuum
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2007 ieee conference on electron devices and solid-state circuits, electron devices and solid-state circuits, 2007. edssc 2007. ieee conference on
(
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2007 international symposium on vlsi technology, systems and applications (vlsi-tsa), vlsi technology, systems and applications, 2007. vlsi-tsa 2007. international symposium on
(
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2010 silicon nanoelectronics workshop, silicon nanoelectronics workshop (snw), 2010
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2011 proceedings of the european solid-state device research conference (essderc), solid-state device research conference (essderc), 2011 proceedings of the european
(
1
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2012 ieee international interconnect technology conference, interconnect technology conference (iitc), 2012 ieee international
(
1
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2012 international electron devices meeting, electron devices meeting (iedm), 2012 ieee international
(
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2013 ieee 5th international nanoelectronics conference (inec), nanoelectronics conference (inec), 2013 ieee 5th international
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2013 international symposium on vlsi technology, systems and application (vlsi-tsa), vlsi technology, systems, and applications (vlsi-tsa), 2013 international symposium on
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2014 international conference on microelectronic test structures (icmts), microelectronic test structures (icmts), 2014 international conference on
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)
2014 international symposium on next-generation electronics (isne), next-generation electronics (isne), 2014 international symposium on
(
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)
2014 silicon nanoelectronics workshop (snw), silicon nanoelectronics workshop (snw), 2014 ieee
(
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2015 ieee 22nd international symposium on the physical and failure analysis of integrated circuits, physical and failure analysis of integrated circuits (ipfa), 2015 ieee 22nd international symposium on the
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2015 international symposium on next-generation electronics (isne), next-generation electronics (isne), 2015 international symposium on
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2015 international symposium on vlsi technology, systems and applications, vlsi technology, systems and application (vlsi-tsa), 2015 international symposium on
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2016 ieee 23rd international symposium on the physical and failure analysis of integrated circuits (ipfa), physical and failure analysis of integrated circuits (ipfa), 2016 ieee 23rd international symposium on the
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2016 ieee silicon nanoelectronics workshop (snw), silicon nanoelectronics workshop (snw), 2016 ieee
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2017 international symposium on vlsi technology, systems and application (vlsi-tsa), vlsi technology, systems and application (vlsi-tsa), 2017 international symposium on
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2019 ieee 26th international symposium on physical and failure analysis of integrated circuits (ipfa), physical and failure analysis of integrated circuits (ipfa), 2019 ieee 26th international symposium on
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2019 international symposium on vlsi technology, systems and application (vlsi-tsa), vlsi technology, systems and application (vlsi-tsa), 2019 international symposium on
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2020 ieee 33rd international conference on microelectronic test structures (icmts), microelectronic test structures (icmts), 2020 ieee 33rd international conference on
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2020 ieee international symposium on the physical and failure analysis of integrated circuits (ipfa), physical and failure analysis of integrated circuits (ipfa), 2020 ieee international symposium on the
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2020 international symposium on vlsi technology, systems and applications (vlsi-tsa), vlsi technology, systems and applications (vlsi-tsa), 2020 international symposium on
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2021 international symposium on vlsi technology, systems and applications (vlsi-tsa), vlsi technology, systems and applications (vlsi-tsa), 2021 international symposium on
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2022 ieee 34th international conference on microelectronic test structures (icmts), microelectronic test structures (icmts), 2022 ieee 34th international conference on
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2022 international symposium on vlsi technology, systems and applications (vlsi-tsa), vlsi technology, systems and applications (vlsi-tsa), 2022 international symposium on
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2023 35th international conference on microelectronic test structure (icmts), microelectronic test structure (icmts), 2023 35th international conference on
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sensors basel switzerland
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ieee
(
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)
ieee-inst electrical electronics engineers inc
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american institute of physics
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electrochemical soc inc
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iop publishing ltd
(
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japan society applied physics
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a v s amer inst physics
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(
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(
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(
2
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inst pure applied physics
(
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japan soc applied physics
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spie - international society of optical engineering
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2013
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1
A 4H-SiC Trench MOS Capacitor Structure for Sidewall Oxide Characteristics Measurement
회의자료
issue
2024 IEEE 36th International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS) Microelectronic Test Structures (ICMTS), 2024 IEEE 36th International Conference on. :1-5 Apr, 2024
Author
Huang, Huai-Lin
Hsuesh, Li-Tien
Tu, Yen-Cheng
Tsui
,
Bing
-
Yue
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
원문보기
Full Text (IEEE)
2
Investigation of Positive Bias Temperature Instability of 4H-SiC MOS Capacitors and Deep Interface States Extraction at 300°C
회의자료
issue
2023 IEEE Workshop on Wide Bandgap Power Devices and Applications in Asia (WiPDA Asia) Wide Bandgap Power Devices and Applications in Asia (WiPDA Asia), 2023 IEEE Workshop on. :1-5 Aug, 2023
Author
Wen, Yu-Xin
Wang, Chia-Hua
Hsiao, Yi-Kai
Hung, Chia-Lung
Tsui
,
Bing
-
Yue
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
원문보기
Full Text (IEEE)
3
A Study on the Impact of Gamma Rays Irradiation on 4H-SiC CMOSFETs
회의자료
issue
2023 IEEE Workshop on Wide Bandgap Power Devices and Applications in Asia (WiPDA Asia) Wide Bandgap Power Devices and Applications in Asia (WiPDA Asia), 2023 IEEE Workshop on. :1-4 Aug, 2023
Author
Chen, Quan-Han
Tsui
,
Bing
-
Yue
Chao, Der-Sheng
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
원문보기
Full Text (IEEE)
4
A multi-contact six-terminal cross-bridge Kelvin resistor (CBKR) structure for evaluation of interface uniformity of the Ti-Al alloy/p-type 4H-SiC contact
회의자료
issue
2023 35th International Conference on Microelectronic Test Structure (ICMTS) Microelectronic Test Structure (ICMTS), 2023 35th International Conference on. :1-4 Mar, 2023
Author
Chen, Yen-Ling
Lai, Shih-Hao
Lin, Jian-Hao
Tsui
,
Bing
-
Yue
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
원문보기
Full Text (IEEE)
5
Investigation of Safe Operating Area on 4H-SiC 600V VDMOSFET with TLP and UIS Test Methods
회의자료
issue
2023 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) Reliability Physics Symposium (IRPS), 2023 IEEE International. :1-4 Mar, 2023
Author
Ke, Chao-Yang
Tsui
, Yu-Chia
Tsui
,
Bing
-
Yue
Ker, Ming-Dou
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
원문보기
Full Text (IEEE)
6
Characterization of 4H-SiC PMOSFET with P+ Poly-Si Gate
회의자료
issue
2023 International VLSI Symposium on Technology, Systems and Applications (VLSI-TSA/VLSI-DAT) Technology, Systems and Applications (VLSI-TSA/VLSI-DAT), 2023 International VLSI Symposium on. :1-2 Apr, 2023
Author
Hung, Chia-Lung
Tsui
,
Bing
-
Yue
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
원문보기
Full Text (IEEE)
7
An Evaluation for Quality Inspection of Epitaxial Layer and Heavily-doped 4H-SiC Substrate by Simple Schottky Barrier Diode and MOS Capacitor
회의자료
issue
2022 IEEE 34th International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS) Microelectronic Test Structures (ICMTS), 2022 IEEE 34th International Conference on. :1-4 Mar, 2022
Author
Chu, Kuan-Wei
Tseng, Chun-Wei
Tsui
,
Bing
-
Yue
Wu, Yew-Chung Sermon
Yang, Cheng-Juei
Hsu, Chuck
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
원문보기
Full Text (IEEE)
8
Device isolation process for 4H-SiC CMOS ICs
회의자료
issue
2022 6th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM) Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM), 2022 6th IEEE. :238-240 Mar, 2022
Author
Tsui
,
Bing
-
Yue
Jhuang, Ya-Ru
Lin, Jian-Hao
Huang, Yi-Ting
Tsai, Te-Kai
Hsu, Kai-Ti
Su, Yi-Han
Hsieh, Yong-Fen
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
원문보기
Full Text (IEEE)
9
Design and Characterization of the Junction Isolation Structure for Monolithic Integration of Planar CMOS and Vertical Power MOSFET on 4H-SiC up to 300 °C
회의자료
issue
2022 International Electron Devices Meeting (IEDM) Electron Devices Meeting (IEDM), 2022 International. :9.3.1-9.3.4 Dec, 2022
Author
Tsui
,
Bing
-
Yue
Tsai, Te-Kai
Hung, Chia-Lung
Wen, Yu-Xin
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
원문보기
Full Text (IEEE)
10
Time-Dependent Dielectric Breakdown of Gate Oxide on 4H-SiC with Different Oxidation and Isolation Processes
회의자료
issue
2020 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA) Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2020 IEEE International Symposium on the. :1-4 Jul, 2020
Author
Wang, Yun-Ju
Huang, Yi-Ting
Tsui
,
Bing
-
Yue
Chien, Chao-Hsin
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
원문보기
Full Text (IEEE)
1
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3
4
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RISS-한국교육학술정보원
LG 상남도서관
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단국대학교 율곡기념도서관
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