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주제
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간행물
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15th european workshop on advanced control and diagnosis (acd 2019) : proceedings of the workshop held in bologna, italy, on november 21-22, 2019
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respuestas, issn 2422-5053, vol. 25, no. 1, 2020
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Benchmark Study on YOLOv8 Variants in Localized Multiclass
Fault
Detection
in PCBs
회의자료
issue
2024 6th International Conference on Electrical Engineering and Information & Communication Technology (ICEEICT) Electrical Engineering and Information & Communication Technology (ICEEICT), 2024 6th International Conference on. :562-567 May, 2024
Author
Najib, Taeef
Muntasir, Fahim
Wasi, Wasif Al Wazed
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Full Text (IEEE)
2
A Storage Based LBIST Scheme for Logic Diagnosis
회의자료
issue
2024 IEEE 42nd VLSI Test Symposium (VTS) VLSI Test Symposium (VTS), 2024 IEEE 42nd. :1-7 Apr, 2024
Author
Gopalsamy, Subashini
Pomeranz, Irith
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
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Full Text (IEEE)
3
Fault
detection
of induction machine using artificial neural networks
회의자료
issue
2024 8th International Conference on Image and Signal Processing and their Applications (ISPA) Image and Signal Processing and their Applications (ISPA), 2024 8th International Conference on. :1-6 Apr, 2024
Author
Bentrad, Moutaz Bellah
Ghoggal, Adel
Bahi, Tahar
Bouziane, Seif Eddine
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
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4
An
Fault
Detection
Strategy of Hybrid AC/DC Microgrids Based on HHT Theory
회의자료
issue
2024 9th Asia Conference on Power and Electrical Engineering (ACPEE) Power and Electrical Engineering (ACPEE), 2024 9th Asia Conference on. :2239-2245 Apr, 2024
Author
Zhou, Jianqiao
Han, Bing
Shi, Gang
Zhang, Jianwen
Zang, Jiajie
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
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5
Conventional Tests for Approximate Scan Logic
학술저널
issue
IEEE Design & Test IEEE Des. Test Design & Test, IEEE. 41(3):5-13 Jun, 2024
Author
Pomeranz, I.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
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조회 - Impact Factor (JCR)
6
Testing for Multiple
Faults
in Deep Neural Networks
학술저널
issue
IEEE Design & Test IEEE Des. Test Design & Test, IEEE. 41(3):47-53 Jun, 2024
Author
Moussa, D.A.
Hefenbrock, M.
Tahoori, M.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
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Full Text (IEEE)
등재 - SCOPUS
조회 - Impact Factor (JCR)
7
Series AC Arc
Fault
Detection
Method Based on L2/L1 Norm and Classification Algorithm
학술저널
issue
IEEE Sensors Journal IEEE Sensors J. Sensors Journal, IEEE. 24(10):16661-16672 May, 2024
Author
Dai, W.
Zhou, X.
Sun, Z.
Miao, Q.
Zhai, G.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
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Full Text (IEEE)
등재 - SCOPUS
조회 - Impact Factor (JCR)
8
Multirate Nonlinear Process
Fault
Detection
Based on Multiscale Hierarchical Variational Autoencoder
학술저널
issue
IEEE Sensors Journal IEEE Sensors J. Sensors Journal, IEEE. 24(10):16467-16477 May, 2024
Author
Shen, B.
Qian, J.
Yang, Z.
Yao, L.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
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Full Text (IEEE)
등재 - SCOPUS
조회 - Impact Factor (JCR)
9
Explicit Formulas for the Equivalence Between
Fault
Detection
Filters and Observers
학술저널
issue
IEEE Transactions on Automatic Control IEEE Trans. Automat. Contr. Automatic Control, IEEE Transactions on. 69(5):3473-3479 May, 2024
Author
Henry, D.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
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Full Text (IEEE)
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등재 - SCOPUS
조회 - Impact Factor (JCR)
10
BroadNet: A Novel Broad Learning System-Based Series AC Arc
Fault
Detection
Approach With Zero-Phase Component Analysis Whitening Transformation
학술저널
issue
IEEE Sensors Journal IEEE Sensors J. Sensors Journal, IEEE. 24(9):14548-14560 May, 2024
Author
Duan, J.
Zeng, L.
Wu, Y.
Chen, L.
Chen, C.L.P.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
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Full Text (IEEE)
등재 - Web of Science (SCIE)
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강릉대학교 도서관
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