후진선 검사성의 반복적 계산과 플립플롭의 초기화 가능성을 고려한 디지탈 회로에 대한 결함 시험도의 평가 기법 개선

상세정보

자료유형	학위논문
서명/저자사항	후진선 검사성의 반복적 계산과 플립플롭의 초기화 가능성을 고려한 디지탈 회로에 대한 결함 시험도의 평가 기법 개선= (An)improved method for evaluation of fault coverage of digital circuits based on iterative testability computation of backward lines and initializability of flipflops/ 金信澤.
개인저자	김신택.
단체저자명	성균관대학교. 대학원. 전기공학과.
발행사항	서울: 成均館大學校, 1997.
형태사항	ix,113p.: 삽화; 26cm.
학위논문주기	학위논문(박사) -- 성균관대학교 대학원:전기공학과 전력공학 및 컴퓨터응용전공,1997
비통제주제어	후진선,플립플롭,디지탈,회로
분류기호(DDC)	621.38
언어	한국어