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VLSI回路의 故障 檢出을 위한 테스트 패턴 生成에 關한 硏究
상세 프로파일
상세정보
자료유형 | 학위논문 |
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서명/저자사항 | VLSI回路의 故障 檢出을 위한 테스트 패턴 生成에 關한 硏究= (A)study on test pattern generation for detection of faults in VLSI circuits/ 金倫弘. |
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개인저자 | 김윤홍.
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단체저자명 | 한양대학교. 대학원. 전자공학과.
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발행사항 | 서울: 漢陽大學校, 1992. |
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형태사항 | vii,161장: 삽화; 26cm. |
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학위논문주기 | 학위논문(박사) -- 한양대학교 대학원:전자공학과,1992 |
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비통제주제어 | VLSI,회로,TEST,PATTERN,GENERATION,DETECTION,FAULTS,VLSI,CIRCUITS |
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분류기호(DDC) | 621.38
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언어 | 한국어 |
소장정보
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No. |
등록번호 |
청구기호 |
소장처 |
밀집번호 |
도서상태 |
반납예정일 |
예약 |
서비스 |
매체정보 |
1 |
9051649 |
TD 621.38 김67ㅂㅎ 1992 |
중앙도서관[별관]/학위논문실/
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Z4104332 |
대출불가(별치) |
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